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中國(guó)臺(tái)灣泰仕發(fā)布新品TES-132太陽(yáng)能功率表（記錄型）
日期：2012-08-02瀏覽：2836次
中國(guó)臺(tái)灣泰仕發(fā)布新品TES-132太陽(yáng)能功率表（記錄型）
TES-132太陽(yáng)能功率表特性
•4位數(shù)顯示
•光譜范圍寬
•長(zhǎng)期穩(wěn)定
•余弦修正
•自動(dòng)材料穿透率測(cè)量
•可選擇太陽(yáng)能功率測(cè)量或穿透率測(cè)量
•太陽(yáng)能能量測(cè)量
•現(xiàn)在時(shí)間設(shè)定功能
•使用者校正參數(shù)設(shè)定功能
•傳感器位于表頂端
•W/m2或Btu/（ft2*h）單位選擇
•讀值鎖定、zui大、zui小、平均值模式功能
•手動(dòng)數(shù)據(jù)記憶及讀取功能（99組）
•自動(dòng)數(shù)據(jù)記錄功能（microSD CARD 2GB）
•自動(dòng)關(guān)機(jī)功能，以節(jié)省無(wú)謂電池能量消耗
•USB界面
TES-132太陽(yáng)能功率表應(yīng)用領(lǐng)域
•氣象
•農(nóng)業(yè)
•太陽(yáng)能輻射測(cè)量
•證明窗戶玻璃之高性能
•太陽(yáng)能研究
•物理及光學(xué)實(shí)驗(yàn)室
•太陽(yáng)穿透率測(cè)量
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- 美國(guó)BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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